快速溫變試驗(yàn)箱 非線性設(shè)備

箱體結(jié)構(gòu)形式簡介：

整體分為，試驗(yàn)室、電控柜、機(jī)倉三個組合而成：左側(cè)上方為試驗(yàn)室，由保溫層試驗(yàn)室內(nèi)膽組成，向左單開門型式出入；電控柜位于右側(cè)，面板主要由溫度控制儀、開關(guān)按扭、故障保護(hù)指示燈組合而成；機(jī)倉置于試驗(yàn)室下方，由過濾器、電磁閥、線路部分、壓縮機(jī)等配件組成。

快速溫變試驗(yàn)箱 非線性設(shè)備

型號：TEB-225PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A;低溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B;高溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N;溫度變化（IEC60068-2-14）
GJB150.3A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：低溫試驗(yàn)